半導體測試強將 它倆訂單為何旺
作者 廖珪如
文章摘要
三立新聞網 · 文章頁摘要隨著AI資料中心高速傳輸需求大增,共同封裝光學(CPO)技術加速量產,第四階段測試(Insertion 4)成關鍵最後一公里。測試流程由單一元件轉向光電同測系統整合,美系泰瑞達、日系愛德萬及台廠致茂、鴻勁等積極卡位,搶攻高階CPO檢測與溫控商機,推動半導體測試設備迎來新一波升級潮。

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隨著AI資料中心高速傳輸需求大增,共同封裝光學(CPO)技術加速量產,第四階段測試(Insertion 4)成關鍵最後一公里。測試流程由單一元件轉向光電同測系統整合,美系泰瑞達、日系愛德萬及台廠致茂、鴻勁等積極卡位,搶攻高階CPO檢測與溫控商機,推動半導體測試設備迎來新一波升級潮。

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