科技新報

汎銓、光焱侵權之爭,宜特:矽光子技術非單一檢測設備專利所能壟斷

作者 Atkinson

針對同業近期對本公司技術合作夥伴提起專利侵權訴訟,並指稱將進一步提告宜特科技,意圖藉此干預矽光子驗證分析市場秩 […]...