科技新報

汎銓獲矽光子光損偵測裝置發明專利,提供產業發展重要基石

作者 Atkinson

半導體檢測廠汎銓宣布,近日獲得台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」的發明專利,目前持續進行歐美韓中專利申請流程中, […]...