【半導體檢測大車拼1】搶攻矽光子與AI商機 汎銓科技光損偵測專利傳捷報

半導體檢測廠商汎銓科技（以下簡稱汎銓）近日獲得台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」 的發明專利。公司表示，目前持續進行歐美韓中專利申請流程中，此項專利涵蓋了一種專門用於偵測半導體導光晶片之導光通道異常現象的裝置與工法，這些異常現象包括光衰、漏光和斷光偵測，能夠有效解決在矽光子積體光路（PIC）中常見的問...