科技新報

先進製程材料分析有解方!國科會原子針尖斷層影像儀發表

作者 Atkinson

次世代半導體元件持續性地演進,為提升元件積體密度必需將尺寸微縮化、材料異質化及結構立體化等,但也帶來材料分析技 […]...