IC Insights：電晶體數量仍依循摩爾定律軌跡前進

據《IC Insights》2020 版的 McClean 報告，電晶體數量是集成電路 (IC) 複雜性的最常見測量指標，有時可以概括地描述每個新一代 IC 所實現的原始運算能力的指數成長。報告指出，依然遵照摩爾定律發展，該定律指出，...