國研院攜手汎銓 攻克High-NA EUV製程檢測技術
作者 黃皓宸全文約 867 字
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鉅亨網 · 文章頁摘要國研院國儀中心攜手汎銓發表高NA EUV光阻材料微影後結構分析瓶頸解方,鍍膜強化晶圓奈米結構。 全球首度成功鍍膜研究成果獲ASML於國際學術論壇引用,助汎銓打入國際設備商與製造商驗證供應鏈。 國儀中心開發低於100度原子層沉積設備,與汎銓合作在金屬氧化物光阻劑表面形成均勻保護層。

國科會轄下國研院國儀中心今(27)日攜手材料分析大廠汎銓(6830-TW)發表「高數值孔徑極紫外光」(High-NAEUV)光阻材料微影製程的結構分析技術,透過鍍膜強化晶圓上的奈米結構,用於後續檢測分析,也是2奈米製程的關鍵檢測突破。...