全國AOI論壇與展覽登場工研院攜手產學研聚焦先進半導體、矽光子智慧檢測

經濟日報10/2 10:03全文約 1,251 字

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本文共1192字人工智慧(Artificial Intelligence ; AI)加速進入產品製造產線，面對先進半導體、矽光子等高精度製程對缺陷檢測與量測準確度的要求提升，傳統自動光學檢測（Automatic Optical Inspection；AOI）正結合AI判讀、創新光學設計及邊緣高速運……

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