經濟日報利易達半導體設備引進日製先進SEM與EUV光源 雙軌並進全面升級先進封裝檢測服務
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為持續提升高階製程研發分析能力、精準掌握微觀結構與材料特性，利易達半導體設備股份有限公司（以下簡稱「利易達半導體」）正式宣布，引進日本大廠 JEOL JSM-6510 奈米級掃描式電子顯微鏡（SEM）搭配 X-Max 能量散布式 X 光分析儀（EDS），並同步導入前瞻 EUV（極紫外光）光源，積極佈...
為持續提升高階製程研發分析能力、精準掌握微觀結構與材料特性，利易達半導體設備股份有限公司（以下簡稱「利易達半導體」）正式宣布，引進日本大廠 JEOL JSM-6510 奈米級掃描式電子顯微鏡（SEM）搭配 X-Max 能量散布式 X 光分析儀（EDS），並同步導入前瞻 EUV（極紫外光）光源，積極佈...