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AI 與小晶片帶動封裝「巨大化」,半導體測試設備供應鏈迎擴張潮

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AI 與小晶片帶動封裝「巨大化」,半導體測試設備供應鏈迎擴張潮(新聞配圖)
配圖來源:科技新報

據 TheElec 5 日引述業界消息,隨著 AI 加速器等 AI 與資料中心晶片需求增加、小晶片(Chiplet)架構日益普及,半導體元件與封裝的實體尺寸不斷擴大,為自動測試設備(ATE)供應材料、零組件與模組的廠商紛紛開發更大規格的產品。...