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三星3奈米晶圓良率過低 傳報廢損失高達235億

作者 劉孜芹
三星3奈米晶圓良率過低 傳報廢損失高達235億(新聞配圖)
配圖來源:上報

日前有消息傳出,南韓三星電子(SamsungElectronics)的3奈米製程技術陷入良率過低的瓶頸,產品缺陷率高,甚至因為報廢而產生1兆韓元(約235億新台幣)的損失。不過,三星目前已出面闢謠。今年稍晚,三星將以這項3奈......