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精測布局半導體異質整合 推多款混針技術MEMS探針卡

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精測布局半導體異質整合 推多款混針技術MEMS探針卡(新聞配圖)
配圖來源:聯合新聞網

SEMI Taiwan國際半導體展今天起登場,測試介面廠中華精測現場秀出各式微機電探針卡方案,並且展示導入混針技術的固態......