科技新報

牧德將發表多項檢測設備,助供半導體與 PCB

作者 蘇子芸

自動光學檢測設備廠牧德科技將於 4 月 23 日在昆山舉行新產品發表會,一次推出多項半導體與高階 PCB 檢測 […]...