科技新報

盛美半導體單片晶圓高溫 SPM 設備,可應對 28 奈米以下濕蝕刻、清洗製程

作者 林妤柔

盛美半導體今(15 日)宣布,其單片晶圓高溫硫酸過氧化混合物(SPM)設備已成功通過一家邏輯晶片製造商的驗證。 […]...