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穎崴高階測試半導體展四箭齊發 迎AI晶片世代

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穎崴高階測試半導體展四箭齊發 迎AI晶片世代(新聞配圖)
配圖來源:太報

半導體測試介面廠穎崴科技今(5)日於SEMICON TAIWAN 2024展會期間,由穎崴科技研發主管孫家彬博士以「AI時代下高頻高速半導體測試介面的機會與挑戰」為題,針對在CPO, CoWoS及Chiplet等高階封裝趨勢下,穎崴所提供的最新技術及產品發表演說。...