隨機性變異成半導體良率殺手 忽視恐損失數十億美元

半導體製造技術領導企業Fractilia最新發布的白皮書指出，在先進製程節點中，隨機性圖案變異已成為影響良率的最大挑戰，若未能有效控制，每間晶圓廠可能損失數億美元，整體產業損失更高達數十億美元。Fractilia技術長Chris Mack強調，傳統製程控制方法無法解決此問題，必須結合精準量測、機率分...