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科技作弊遇剋星!分科測驗啟用金屬探測 首日查獲考生攜AI眼鏡應試

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科技作弊遇剋星!分科測驗啟用金屬探測 首日查獲考生攜AI眼鏡應試(新聞配圖)
配圖來源:CTWANT

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