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imec:金屬導線技術突破 合金薄膜電阻首度超越銅和釕

機構署名 鉅亨網新聞中心

比利時微電子研究中心 (imec) 本周在 IEEE 國際內連技術會議展示實驗成果,首次證實導體薄膜的電阻在 12 吋矽晶圓上,可超越目前業界使用的金屬導線材料銅 (Cu) 和釕 (Ru),如厚度為 7.7 奈米的鎳鋁二元合金在經過晶粒工程後...