AI智慧檢測搶攻半導體!倍利科推新一代AOI方案 毫秒級檢測、過殺率降至5%以下

黃詩雯全文約 396 字
AI智慧檢測搶攻半導體!倍利科推新一代AOI方案 毫秒級檢測、過殺率降至5%以下(新聞配圖)
配圖來源:FTNN新聞網

記者黃詩雯/綜合報導 AI應用加速導入製造業,智慧檢測需求也跟著升溫。倍利科(7822)鎖定半導體封測及高階電子零組件市場,推出新一代工業級AI智慧檢測方案,結合深度學習與先進光學檢測(AOI)技術,進一步提升產線檢測效率與精準度。...