中央社

清大發現光絲化機制 埃秒脈衝助半導體材料檢測

未署名
清大發現光絲化機制 埃秒脈衝助半導體材料檢測(新聞配圖)
配圖來源:中央社

國立清華大學電機工程學系研究團隊利用「光絲化」機制引導雷射光,使其自然壓縮並產生高品質的孤立埃秒脈衝,如同超高速閃光燈,能運用在半導體先進製程中的材料檢測。...