← 中央社報導中央社清大發現光絲化機制 埃秒脈衝助半導體材料檢測未署名5/13 17:22配圖來源:中央社國立清華大學電機工程學系研究團隊利用「光絲化」機制引導雷射光,使其自然壓縮並產生高品質的孤立埃秒脈衝,如同超高速閃光燈,能運用在半導體先進製程中的材料檢測。...https://www.cna.com.tw/news/ahel/202605130256.aspx