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精測量產混針探針卡 深化繪圖晶片測試

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精測量產混針探針卡 深化繪圖晶片測試(新聞配圖)
配圖來源:中央社

測試介面廠中華精測總經理黃水可今天表示,精測混針探針卡進入量產,客戶下世代產品將導入,預期貢獻營收和單價,此外精測持續深化繪圖晶片(GPU)測試。...