鏡報專訪／卡位CPO商機！汎銓柳紀綸：只有IC檢測太平淡 矽光子商機無窮無盡
作者 謝承學全文約 1,146 字
文章摘要
鏡報 · 文章頁摘要半導體檢測大廠汎銓董事長柳紀綸接受《鏡報》專訪時表示，半導體檢測行業迎來變革，AI讓半導體產業兩極化，只單純做傳統的IC檢測顯得平淡，而汎銓則是鎖定矽光子檢測商機中最核心的光子積體電路（PIC）晶片檢測，他看好矽光子將成為長期商機，且從研發、量產都要高度需要檢測。
半導體檢測大廠汎銓董事長柳紀綸接受《鏡報》專訪時表示，半導體檢測行業迎來變革，AI讓半導體產業兩極化，只單純做傳統的IC檢測顯得平淡，而汎銓則是鎖定矽光子檢測商機中最核心的光子積體電路（PIC）晶片檢測，他看好矽光子將成為長期商機，且從研發、量產都要高度需要檢測。...